QUANIX4200涂镀层测厚仪是一款来自德国尼克斯的高性能测厚仪器，专为涂覆层、镀层和氧化层的精确测量而设计。其型号为QuaNix4200 (QNIX4200)，产地为德国，确保了其可靠性和高质量的测量能力。

零位稳定是涂层测厚仪测量的基础。在使用QuaNix4200进行测量前，务必进行校零。通过随仪器附带的校零板或未涂覆的工件进行校准，可以确保结果的准确性。该仪器在校零后具有长时间保持零位不漂移的优势，确保了测量的持续可靠性。

与其他测厚仪不同的是，QuaNix4200无需进行繁琐的标定。大部分测厚仪在校零后还需要使用标准片进行调校，这不仅增加了操作的复杂性，还可能因标准片的表面粗糙导致测量误差。QuaNix4200简化了这一过程，提高了测量效率。

温度补偿是测厚仪精准测量的重要技术。由于涂层厚度的测量受温度影响较大，QuaNix4200具备优良的温度补偿技术，确保在不同温度条件下的测量精度不受影响。

该仪器还配备有红宝石探头，其接触点的耐用性大大提高了测量的准确性。相较于普通金属探头，红宝石探头在长时间使用后仍能保持高度的测量精度。

QuaNix4200采用先进的直流采样技术，提升了测量的重复性，相较于传统的交流技术具有显著的优势，能够满足高要求的测量需求。

详细技术参数方面，该测厚仪适用于测量钢铁等磁性金属基体上的非磁性涂层，测量范围为0-3000微米，测量精度相当高：0-50微米的绝对误差为±1微米，50-1000微米为±1.5/100，1000-3000微米为±2/100。其最小测量面积为10x10毫米，最小基材厚度为0.2毫米，适合多种应用场景。

QuaNix4200的工作温度范围为0-60度，使用两节1.5V电池供电，设备体积为100X60X27毫米，重量约为110克，携带方便。

如果您需要高精度的涂层测厚解决方案，QUANIX4200涂镀层测厚仪将是您理想的选择。了解更多信息，请访问我们的官网www.konon021.com。