Surfix BN非铁基膜厚仪

Surfix BN非铁基膜厚仪是由德国PHYNIX公司制造的一款高精度膜厚测量仪器，专为测量有色金属涂镀层而设计。该设备的测量精度为±1μm+1%读数，分辨率可达到0.1μm，同时具备读数背景光，便于在不同环境下使用。

Surfix BN非铁基膜厚仪具有以下显著特点：

1. 采用碳化钨超薄测头，具备特快的反应速度，测量过程流畅高效。

2. 支持测量有色金属涂镀层，而且在基体上的涂层量程可达1500μm。

3. 该设备的基本型基于高品质材料，提供可靠与耐用的测量解决方案。

4. Surfix BN膜厚仪的技术参数如下：

- 测量范围为0-1500μm，相当于0 - 60mils。

- 测量误差为±（1μm+1%读数），确保数据的准确性。

- 分辨率为0.1μm或读数的2%，提供高精度的读数。

- 显示为背光设计，字母与数字结合，显示面为10mm高，方便读取。

- 对于基体的要求，最小面积为5mmX5mm，最小曲率分别为凸面1.5mm和凹面5mm。

- 最小厚度方面，F型为0.2mm，N型为50μm。

同时，Surfix BN膜厚仪也支持与PC及打印机连接，实现数据的便捷管理与输出。此外，厂家提供的校准服务确保仪器的长期稳定性与准确性，包括零校准和校准箔校准。

选择Surfix BN非铁基膜厚仪，您可以获得高精度的膜厚测量解决方案，是工业检测和质量控制的理想工具。