上海温度冲击试验箱品种齐全

温度冲击试验箱是一种专门用于检测电子元器件安全性能的重要设备，其测试能力和高性能标准使其成为可靠性测试和产品筛选的理想选择。

符合标准：本试验箱遵循GB/T2423.1.2、GB10592-89以及GJB150相关测试标准，确保实验结果的权威性和可靠性。

控制系统：温度冲击试验箱的设计保证了低温区与高温区之间的切换时间不超过15秒，温度恢复时间也控制在5分钟以内，为测试提供高效的环境变化。

产品用途：本设备广泛应用于电子元器件的安全性测试，能够提供多种可靠性实验方案，帮助用户选拔高质量的产品并进行有效的质量控制。

结构特点：此试验箱拥有以下几个显著的设计特点：

• 全面采用计算机控制，配备自主开发的软件系统，操作界面友好，使得测试过程简单直观。
• 支持临时参数调整，用户可在屏幕上设定冷、热、提蓝传送的时间参数，并自动执行。
• 冷箱与热箱独立控制，箱门互不干扰，从而拓宽试验范围。
• 有效的保温设计确保测试环境的稳定性。
• 试验箱的门与循环风机、提蓝传动等系统实现互锁，确保操作者安全，一旦打开箱门，系统会自动切断电源。
• 箱顶设有标准引线孔，方便用户引入传感器线以及检测所需的电缆等。

规格与技术参数：以下是本系列温度冲击试验箱的主要型号及其技术参数：

• 型号(CM):WDCJ-162，工作室尺寸: 45*45*45，外型尺寸: 156*87*154.5，样品区尺寸: 30*30*25，功率: 6.5(KW)
• 型号(CM):WDCJ-340，工作室尺寸: 60*60*60，外型尺寸: 171*102*184.5，样品区尺寸: 45*45*36，功率: 8.6(KW)
• 型号(CM):WDCJ-500，工作室尺寸: 80*80*80，外型尺寸: 191*122*226.5，样品区尺寸: 65*65*50，功率: 13.5(KW)
• 型号(CM):WDCJ-010，工作室尺寸: 100*100*100，外型尺寸: 211*142*266.5，样品区尺寸: 85*85*70，功率: 15.5(KW)

性能指标：温度范围包括A: -20℃至200℃、B: -40℃至200℃、C: -60℃至200℃，波动度控制优于±2℃，并且在恒温状态下波动度不超过±0.5℃。样品承重能力为(WDCJ-162)20KG、(WDCJ-340)30KG、(WDCJ-500)50KG与(WDCJ-010)60KG。

运行控制系统：本设备配备进口LED数显控制器，设定精度达到温度±0.1℃，指示精度和解析度均为±0.1℃。制冷系统由德国谷轮半封闭水冷式压缩机和法国“泰康”全封闭风冷复迭压缩制冷方式组成，确保试验的高效性和准确性。

总结来说，温度冲击试验箱以其高效的性能和可靠的设计，为电子元器件的测试提供了强有力的支持，是进行产品质量控制与保障的重要工具。