fischer镀层测厚仪是一款性能卓越的高精密、高分辨率膜厚测试仪器。该仪器采用先进的X-射线测量技术,实现了快速、精确的测量效果。fischer仪器首创了光学准直器,能够同时测量多达4层金属镀层和合金镀层的厚度以及成分。其测量厚度范围从埃(Å)到微米(μm)不等,同时支持测定多达24个元素的块状合金成分,展现出卓越的准确度、精密度和稳定性。
fischer镀层测厚仪的可测量厚度范围非常广泛,具体如下:原子序22-25的厚度为0.1-0.8μm,原子序26-40的厚度为0.05-35μm,原子序43-52的厚度为0.1-100μm,以及原子序72-82的厚度为0.05-5μm。该仪器配备了油冷超微细对焦的X-射线管,最高工作电压为0-50KV(程控)。
在操作系统方面,fischer镀层测厚仪使用兼容的电脑系统,配有17英寸显示器及WINDLES XP中文界面,用户可以快速上手,轻松操作。
fischer镀层测厚仪的综合性能包括:
镀层分析、定性分析、定量分析以及镀液分析,为用户提供全面的检测解决方案,能够满足不同需求。
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