X-射线膜厚测试仪

X-射线膜厚测试仪 是一种结合了测量镀层厚度和物料分析双重功能的高科技仪器。该仪器采用先进的能量散射X-射线荧光测量原理，能够实现非破坏性和无接触的测量，符合行业标准。

除了能够精准测量镀层厚度外，X-射线膜厚测试仪 还具备计算合金中各种元素含量的能力。这使得用户在分析材料成分时，能够获得更全面的信息。此外，测量电镀槽内金离子浓度也是简单易行的。

FISCHER X-射线膜厚测试仪设计有手动测量台，其可移动范围为50mm x 50mm。这一设计允许操作人员在不打开测量门的情况下，轻松调整测量位置，极大地方便了操作流程。

该仪器采用由下向上的照射设计，使得测量只需简单对准量测位置，无需调校焦距即可进行精准测量。由于其独特的照射方式，X-射线膜厚测试仪 特别适合对一些较小样本进行测量，比如手表、端子、小螺丝、螺丝帽及部分电气产品中的小五金零件。

综上所述，X-射线膜厚测试仪 是一款高效、便利且精确的测量工具，非常适合工业和科研领域的使用，能够满足用户对于镀层厚度和材料成分分析的多样化需求。