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在现代工业中，xulm-Z镀层膜厚测试仪因其优越的性能与经济实惠的特点而受到广泛青睐。这款测量仪器操作简单，适合不同需求的用户，尤其是在测量大体积或不规则形状工件时，其大测量室提供了极大的便利。
使用DMC测量法，可以精准修正测量距离，并能够自动适应复杂形状的测量对象。对于大型线路板，只需将其放置于测量头和测量台之间的槽中，便能轻松进行测量。
菲希尔xulm-Z镀层膜厚测试仪配备了微焦距XRAY管，具备四个电动移动准值器，尺寸分别为圆形直径0.1MM、0.2MM，以及方形的0.05MM*0.05MM和0.03MM*0.2MM。此外，它还配置了三种基本滤片选择，以使光谱圈更适合各种分析需求。
该仪器的基本操作软件WINFTM V6 LIGHT功能强大，可以在同一时间内测量多达层镀层，或进行最多5种元素的合金分析。同时，它还支持最多测量两个正离子的药水浓度分析，极大地提高了工作效率。
在短短数秒钟内，xulm-Z镀层膜厚测试仪能够精准测定从17号元素氯到92号元素镭的所有元素，确保用户对各种镀层进行准确的分析。这款仪器能够测量的镀层包括：
- 单一镀层：如Zn、Ni、Cr、Cu、Ag、Au、Sn等。
- 二元合金层：例如Fe上的SnPb、ZnNi和NiP合金。
- 三元合金层：如Ni上的AuCdCu合金。
- 双镀层：如Au/Ni/Cu、Cr/Ni/Cu、Au/Ag/Ni、Sn/Cu/Brass等。
- 双镀层，如果其中有合金层：例如Cr/NiCu/Plastic或Fe等。
无论您是在科研、制造还是质量控制领域，xulm-Z镀层膜厚测试仪都将是您不可或缺的测量工具，帮助您提升工作效率，保证产品质量。
