FXL膜厚仪-测厚仪-镀层测厚仪

在现代工业领域，FXL膜厚仪、测厚仪以及镀层测厚仪作为一种简单易操作且经济实惠的测量工具，广受欢迎。这些仪器不仅可以在大测量室内测量大体积和不规则形状的工件，还具备高效的性能，使其成为许多行业的理想选择。

DMC测量法的运用，允许对测量距离进行修正，使得仪器能够自动适应复杂形状的测量需求。即使是比较大的线路板，也可以轻松放置在测量头及测量台之间的槽中进行精准测量。

FXL膜厚仪、测厚仪以及镀层测厚仪配备了微焦距XRAY管和四个电动移动准值器，尺寸包括圆形直径为0.1MM、0.2MM，及方形的0.05MM*0.05MM与0.03MM*0.2MM。此外，还配备有三个基本滤片以优化光谱分析。

在操作软件方面，采用WINFTM V6 LIGHT，此软件能够同时测量多达多层镀层，支持多元素的合金分析，甚至可以进行多个正离子的药水浓度测量分析。值得一提的是，在不使用标准片校正的情况下，这些仪器仍然可以提供相当不错的测量结果。

我们的产品尤其适用于手表、端子、小螺丝、螺丝帽以及一些电气产品中的小五金零件等领域。您的需求就是我们的追求。若您对此类测量仪器感兴趣，欢迎随时联系我们。

金霖电子 吴小姐
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