菲希尔膜厚测试仪

菲希尔（X射线）膜厚测试仪是专为应对挑战性的RoHS和WEEE分析而设计的一款先进检测仪器。该设备不仅适用于测量黄金和其他贵金属的成分，且其分析金的成分重复性可达到0.5‰，确保了高精度的测试结果。

通过配备的CCD摄像机，用户可以方便地观察和选择任意微小面积，以进行精确的镀层厚度测量，从而避免了对被测物直接接触或破坏。这款测试仪器的使用安全简便，设计坚固，能够有效降低维护费用，符合DIN ISO 3497和ASTM B 568等国际标准。

该仪器采用高分辨的硅-PIN接收器，结合快速信号处理系统，使其具备极高的精确度和极低的检测限。通过简单的操作，用户能够在数秒钟内准确测定从氯（17号元素）到镭（92号元素）之间的所有元素，涵盖多种镀层类型。

对于镀层的测量，菲希尔膜厚测试仪能够处理以下内容：单一镀层，如Zn、Ni、Cr、Cu、Ag、Au、Sn等；二元合金层，例如在铁基材上的SnPb、ZnNi和NiP合金；三元合金层，如Ni上的AuCdCu合金；以及双镀层组合，如Au/Ni/Cu、Cr/Ni/Cu、Au/Ag/Ni、Sn/Cu/Brass等。此外，它也支持含有合金层的双镀层测试。

菲希尔XUL（M）膜厚仪广泛应用于五金、电镀、端子、连接器及金属等多个行业。我们金东霖科技始终以满足客户需求为目标，提供最优质的检测试解决方案。